SN74BCT8374ADWRG4

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Parte del produttore

SN74BCT8374ADWRG4

Produttore
Texas
Descrizione
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Categoria
circuiti integrati
Famiglia
logica - logica di specialità
Serie
-
Disponibile
0
Schede tecniche in linea
-
Inchiesta
  • serie:74BCT
  • pacchetto:Tape & Reel (TR)
  • stato di parte:Obsolete
  • tipo logico:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
  • tensione di alimentazione:4.5V ~ 5.5V
  • numero di bit:8
  • temperatura di esercizio:0°C ~ 70°C
  • tipo di montaggio:Surface Mount
  • pacchetto / custodia:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • pacchetto di dispositivi del fornitore:24-SOIC
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