SN74LVTH18646APM

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Parte del produttore

SN74LVTH18646APM

Produttore
Texas
Descrizione
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Categoria
circuiti integrati
Famiglia
logica - logica di specialità
Serie
-
Disponibile
117
Schede tecniche in linea
-
Inchiesta
  • serie:74LVTH
  • pacchetto:Tray
  • stato di parte:Active
  • tipo logico:ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
  • tensione di alimentazione:2.7V ~ 3.6V
  • numero di bit:18
  • temperatura di esercizio:-40°C ~ 85°C
  • tipo di montaggio:Surface Mount
  • pacchetto / custodia:64-LQFP
  • pacchetto di dispositivi del fornitore:64-LQFP (10x10)
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